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    BAT专家面试辅导

讲师介绍

  • 高级数字IC设计工程师,在全球top10的IC公司工作NNN年+,具有丰富的数字IC设计经验

  • 课程详情

    本课程的内容讲解一些数字IC或者FPGA相关的笔试面试题。

    内容包括--

    存储器
    --按存取方式划分,存储器有几类和其特点
    --sram单元的电路图和原理
    --sram,flash memory,及dram的区别
    --NAND FLASH与NOR FLASH的概念和区别
    --什么叫做OTP片、掩膜片,两者的区别何在

    RTL编码和时序逻辑
    --什么时候推导出锁存器
    --多时域设计中, 如何处理信号跨时域
    --画出可以检测10010串的状态图,并verilog实现之
    --写一个memery仿真模型
    --如何实现上升沿,下降沿,双沿检测电路
    --亚稳态的概念,危害和处理方法
    --如何提高系统运行速度
    --setup/hold time的计算相关题目
    --如何确定FIFO的深度
    --分频电路设计
    --设计一个计算连续Leading Zeros个数的电路。

    IO电路与验证
    --为什么需要I/O电路?
    --ESD电路的概念和作用
    --说说静态/动态时序模拟的区别
    --形式验证和功能验证的概念和区别

    DC综合/DFT/STA/PR
    --DC综合的流程
    --时序路径等相关概念
    --门控时钟的作用
    --门控时钟导致电路测试覆盖率降低,如何解决
    --什么是DFT?为什么要DFT
    --DFT技术有哪些
    --什么是CTS?为什么要CTS

    FPGA等与IQ题
    --FPGA芯片内有哪些资源和存储器资源
    --IC设计前端到后端的流程和EDA工具
    --RISC和CISC的区别
    --如何进行低功耗设计
    --FT和CP有什么区别
    --IQ题
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